半導(dǎo)體分立器件靜態(tài)參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)

能測(cè)試很多電子元器件的靜態(tài)直流參數(shù)

覆蓋 7 大類別 32 分類，包括“二極管類”“三極管類”“保護(hù)類器件”“穩(wěn)壓集成類”

“繼電器類”“光耦類”“傳感監(jiān)測(cè)類”等品類的繁多的電子元器件。

如 Si, SiC, GaN 材料的IGBT，DIODE，MOSFET，HEMT，BJT，SCR，光耦，繼電器，穩(wěn)壓器

高壓源 1400V（選配 2KV），高流源 40A（選配 100A,200A,500A），柵極電壓電流 40V/100mA

分辨率可至 1.5uV / 1.5pA 精度可至 0.1%

靜態(tài)參數(shù)可測(cè)試之外，還可測(cè)試“結(jié)電容”，支持“一鍵自動(dòng)加熱”和“分選機(jī)連接”

1、系統(tǒng)概述

STD2000半導(dǎo)體分立器件靜態(tài)參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)是由我公司技術(shù)團(tuán)隊(duì)結(jié)合半導(dǎo)體功率器件測(cè)試的多年經(jīng)驗(yàn)，以及眾多國(guó)內(nèi)外測(cè)試系統(tǒng)產(chǎn)品的熟悉了解后，自主開(kāi)發(fā)設(shè)計(jì)的全新一代“半導(dǎo)體分立器件靜態(tài)參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)”。軟件及硬件均由團(tuán)隊(duì)自主完成。這就決定了這款產(chǎn)品的功能性和可靠性能夠得到持續(xù)完善和不斷的提升。產(chǎn)品應(yīng)用于功率器件的初始研發(fā)到規(guī)模量產(chǎn)再到應(yīng)用的全產(chǎn)業(yè)鏈。服務(wù)領(lǐng)域包括半導(dǎo)體器件及 IC 上游產(chǎn)業(yè)（設(shè)計(jì)、制造、封裝、IDM廠商、晶圓、DBC 襯板）和應(yīng)用端產(chǎn)業(yè)（院所高校、電子廠、軌道機(jī)車、新能源汽車、白色家電等......）應(yīng)用場(chǎng)景主要有器件及 IC 研發(fā)期預(yù)演測(cè)試、晶圓廠自動(dòng)化芯片測(cè)試、器件及 IC 后道封裝測(cè)試、應(yīng)用端的來(lái)料檢驗(yàn)、失效分析、器件選型、參數(shù)配對(duì)、壽命預(yù)估等。

脈沖信號(hào)源輸出方面，高壓源標(biāo)配 1400V（選配 2KV），高流源標(biāo)配 40A（選配 100A,200A， 500A）柵極電壓 40V，柵極電流 100mA，分辨率可至 1.5uV / 1.5pA，精度可至 0.1%。 程控軟件基于 Lab VIEW 平臺(tái)編寫(xiě)，填充式菜單界面。采用帶有開(kāi)爾文感應(yīng)結(jié)構(gòu)的測(cè)試插座， 自動(dòng)補(bǔ)償由于系統(tǒng)內(nèi)部及測(cè)試電纜長(zhǎng)度引起的任何壓降，保證測(cè)試結(jié)果準(zhǔn)確可靠。產(chǎn)品可測(cè)試 Si, SiC, GaN 材料的 IGBTs, DIODEs, MOSFETs, BJTs, SCRs 等 7 大類 26 分類的電子元器件。涵蓋電子產(chǎn)品中幾乎所有的常見(jiàn)器件。無(wú)論電壓電流源還是功能配置都有匹配的擴(kuò)展性。

系統(tǒng)為桌面放置的臺(tái)式機(jī)結(jié)構(gòu)，由測(cè)試主機(jī)和程控電腦兩大部分組成。外掛各類夾具和適配器，還能夠通過(guò)Prober接口、Handler接口可選（16Bin）連接分選機(jī)和機(jī)械手建立工作站，實(shí)現(xiàn)快速批量化測(cè)試。通過(guò)軟件設(shè)置可依照被測(cè)器件的參數(shù)等級(jí)進(jìn)行自動(dòng)分類存放。能夠優(yōu)秀的應(yīng)對(duì)“來(lái)料檢驗(yàn) ”“失效分析 ”“選型配對(duì) ”“量產(chǎn)測(cè)試 ”等不同應(yīng)用場(chǎng)景。

系統(tǒng)軟件基于Labview平臺(tái)開(kāi)發(fā)，填充式菜單界面，帶自動(dòng)糾錯(cuò)功能，可進(jìn)行器件參數(shù)的分檔、分類編程，并可實(shí)時(shí)顯示和記錄分檔、分類測(cè)試結(jié)果，測(cè)試結(jié)果和統(tǒng)計(jì)結(jié)果均可以EXCEL格式存貯于計(jì)算機(jī)中，根據(jù)需要可以打印輸出。

2、應(yīng)用場(chǎng)景

? ?測(cè)試分析（功率器件研發(fā)設(shè)計(jì)階段的初始測(cè)試）

? ?失效分析（對(duì)失效器件測(cè)試分析，查找失效機(jī)理。以便對(duì)電子整機(jī)設(shè)計(jì)和使用過(guò)程提出改善方案）

? ?選型配對(duì)（在器件焊接至電路板之前進(jìn)行全部測(cè)試，將測(cè)試數(shù)據(jù)比較一致的器件進(jìn)行分類配對(duì)）

? ?來(lái)料檢驗(yàn)（研究所及電子廠的質(zhì)量部（IQC）對(duì)入廠器件進(jìn)行抽檢/全檢，把控器件的良品率）

? ?量產(chǎn)測(cè)試（可連接機(jī)械手、掃碼槍、分選機(jī)等各類輔助機(jī)械設(shè)備，實(shí)現(xiàn)規(guī)?；?、自動(dòng)化測(cè)試）

3、系統(tǒng)特點(diǎn)

◆  系統(tǒng)采用大規(guī)模32位ARM&MCU設(shè)計(jì)

◆  16 位 ADC，1M/S 采樣速率

◆  基于 Lab VIEW 平臺(tái)開(kāi)發(fā)的填充式菜單軟件界面；

◆  菜單式測(cè)試程序編輯軟件操作簡(jiǎn)便

◆  可測(cè)試7大類26分類的電子元器件

◆  程控高壓源1400V，提供2000V選配

◆  程控高流源40A，提供100A,200A,300A 選配；

◆  控制極電壓可達(dá)40V，電流可達(dá)100mA

◆  測(cè)試漏流最小分辨率達(dá)1.5pA

◆  自動(dòng)識(shí)別器件極性 NPN/PNP

◆  四線開(kāi)爾文連接保證加載測(cè)量的準(zhǔn)確

◆  Prober接口、Handler接口可選（16Bin）

◆  連接分選機(jī)罪高測(cè)試量為每小時(shí)1萬(wàn)個(gè)

◆  可為用戶提供豐富的測(cè)試適配器

◆  可選配測(cè)試結(jié)電容，諸如Ciss，Crss，Coss；

◆  系統(tǒng)符合《GJB128半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法》等相應(yīng)的君標(biāo)及國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)。

4、人機(jī)界面

5、IV曲線功能

半導(dǎo)體分立器件靜態(tài)參數(shù)測(cè)試儀系統(tǒng)設(shè)備STD2000X能實(shí)時(shí)自動(dòng)進(jìn)行IV曲線掃描；

6、光耦靜態(tài)參數(shù)動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試

半導(dǎo)體分立器件靜態(tài)參數(shù)測(cè)試儀系統(tǒng)設(shè)備STD2000X能測(cè)試光耦的動(dòng)態(tài)參數(shù)、靜態(tài)參數(shù)；

7.關(guān)于本機(jī)

半導(dǎo)體分立器件靜態(tài)參數(shù)測(cè)試儀系統(tǒng)設(shè)備STD2000X是由我公司技術(shù)團(tuán)隊(duì)結(jié)合半導(dǎo)體功率器件測(cè)試的多年經(jīng)驗(yàn)，以及眾多國(guó)內(nèi)外測(cè)試系統(tǒng)產(chǎn)品的熟悉了解后，自主開(kāi)發(fā)設(shè)計(jì)的全新一代“晶體管直流參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)”。軟件及硬件均由團(tuán)隊(duì)自主完成。這就決定了這款產(chǎn)品的功能性和可靠性能夠得到持續(xù)完善和不斷的提升。

脈沖信號(hào)源輸出方面，高壓源標(biāo)配 1400V（選配 2KV），高流源標(biāo)配 40A（選配 100A,200A,500A）柵極電壓 40V，柵極電流 100mA，分辨率可至 1.5uV / 1.5pA，精度可至 0.1%。程控軟件基于 LabVIEW 平臺(tái)編寫(xiě)，填充式菜單界面。采用帶有開(kāi)爾文感應(yīng)結(jié)構(gòu)的測(cè)試插座，自動(dòng)補(bǔ)償由于系統(tǒng)內(nèi)部及測(cè)試電纜長(zhǎng)度引起的任何壓降，保證測(cè)試結(jié)果準(zhǔn)確可靠。產(chǎn)品可測(cè)試 Si, SiC, GaN 材料的 IGBTs, DIODEs, MOSFETs, BJTs, SCRs 等 7 大類 26 分類的電子元器件。涵蓋電子產(chǎn)品中幾乎所有的常見(jiàn)器件。無(wú)論電壓電流源還是功能配置都有著的擴(kuò)展性

產(chǎn)品為桌面放置的臺(tái)式機(jī)結(jié)構(gòu)，由測(cè)試主機(jī)和程控電腦兩大部分組成。外掛各類夾具和適配器，還能夠通過(guò) Prober 接口、Handler 接口可選（16Bin）連接分選機(jī)和機(jī)械手建立工作站，實(shí)現(xiàn)快速批量化測(cè)試。通過(guò)軟件設(shè)置可依照被測(cè)器件的參數(shù)等級(jí)進(jìn)行自動(dòng)分類存放。能夠優(yōu)秀的應(yīng)對(duì)“來(lái)料檢驗(yàn)”“失效分析”“選型配對(duì)”“量產(chǎn)測(cè)試”等不同場(chǎng)景。

產(chǎn)品的可靠性和測(cè)試數(shù)據(jù)的重復(fù)性以及測(cè)試效率都有著非常優(yōu)秀的表現(xiàn)。創(chuàng)新的“點(diǎn)控式夾具”讓操作人員在夾具上實(shí)現(xiàn)一點(diǎn)即測(cè)。操作更簡(jiǎn)單效率更高。測(cè)試數(shù)據(jù)可保存為 EXCEL 文本。